Background
News
Workshop: Introduction to Scanning Electron Microscope
Author: Dr. Agus Purwanto
Selasa, 17 Juni 2014

Kami mengundang para peneliti untuk menghadiri workshop : Introduction to Scanning Electron Microscope.  Dalam workshop ini, peserta bisa menguji sample dengan SEM.  Berikut adalah info lebih rinci.

Workshop ini diselenggarakan (free of charge, limited seats) oleh Center for Metrology and Microanalysis (CMM), Surya University bekerja sama dengan STKIP Surya dan P.T. Multi Teknindo Infotronika (MTI). Pembahasan akan diawali dengan pengenalan singkat mengenai CMM oleh Agus Purwanto, Ph.D. Teknologi dan aplikasi mikroskop elektron akan dibahas oleh Dr.-Ing Arbi Dimyati. Desktop SEM Phenom akan dijelaskan oleh tenaga ahli dari MTI. Setelah lunch (provided by MTI), peserta berkesempatan menguji sample (free of charge) dengan SEM Phenom yang mempunyai resolusi maksimum 25 nm. Workshop ini diselenggarakan pada
Tanggal : 5 Juni 2013
Waktu : 9.00 - selesai (paling lambat jam 17.00)
Lokasi : ruang 409, gedung SuREForm ini khusus dibuat untuk STKIP Surya dan Surya University.

Bagi yang berkenan hadir, mohon mengisi form sederhana di bawah ini, paling lambat senin 3 Juni, jam 8 pagi :
https://docs.google.com/forms/
d/1O0g2G3dSpj_Byc3gZRBfOBcVbCyfPDIxrUnUW9p8iS0/viewform